3D-контроль деталей самолётов позволит предупредить авиакатастрофы
Российские учёные разработали не имеющую аналогов в мире технологию обнаружения дефектов материалов размером в 50 микрон
Научный коллектив НИТУ «МИСиС» под руководством профессора Александра Карабутова разработал уникальный отечественный прибор лазерно-ультразвуковой диагностики материалов, способный обнаружить мельчайшие внутренние дефекты с точностью до сотых миллиметра.
В результате развития техники растут механические и тепловые нагрузки на наиболее ответственные силовые элементы конструкции, что требует использования новых стратегических материалов, таких, как композиты и аддитивные покрытия. Они уникальны по прочности и лёгкости, но структурно неоднородны, поэтому развитие критического разрушения в них происходит стремительнее, чем в традиционных металлах.
Скажем, мельчайшие поры и дефекты в деталях авиационных механизмов при воздействии совокупности переменных напряжений в воздухе могут превратиться в магистральную, то есть по размерам сравнимую с функциональными частями самолёта, трещину и стать причиной катастрофы. Для предотвращения разрушений наиболее значимые узлы лайнера должны проходить трёхмерную экспертизу внутренней структуры, которая обнаружит дефектные очаги на самой ранней стадии.
«Научный коллектив новой лаборатории НИТУ «МИСиС», созданной в 2015 году в рамках программы повышения конкурентоспособности, под руководством доктора физико-математических наук, профессора Александра Карабутова представил новую, не имеющую мировых аналогов, технологию лазерно-ультразвуковой структуроскопии с уникальными возможностями для 3D-контроля материалов, деталей и изделий авиационной техники», - сообщила ректор НИТУ «МИСиС» Алевтина Черникова.
Лазерно-ультразвуковой структуроскоп, разработанный в НИТУ «МИСиС», обладает повышенным пространственным разрешением (50 микрон) при сохранении большой глубины зондирования (до 40 мм) и позволяет характеризовать дефекты по их механическим характеристикам и форме, получая фактически 3D-модель детали.
Далее о технологии обнаружения дефектов читайте здесь